Product

測試探針

允利實業專注於半導體與電子測試領域,提供客製化測試治工具、精密加工與技術支援,確保產品品質與測試效能。

測試探針

  • 針尖最小可達 0.1mm,有效接觸微小引腳與細密電路
  • 高導電材質設計,接觸電阻低、訊號傳輸穩定
  • 支援高頻高速測試,頻率範圍可達 40GHz 以上
  • 通過超過 100 萬次循環壽命測試,耐用度高、可靠性強
  • 可依應用需求(如針長、彈力、結構形式等)客製化製作,滿足各式測試挑戰

標籤

類型

Product Description
射頻測試探針
  • 間距:≥0.3mm
  • 電流:≥3-5A
  • 低阻值及自感,良好耐磨性及自清潔
  • 帶寬:≥15-40GHz@-1dB
  • 適用 QFN/DFN & LGA等封裝
射頻測試探針
射頻測試探針
射頻測試探針
  • 間距:≥0.3mm
  • 電流:≥3-5A
  • 低阻值及自感,良好耐磨性及自清潔
  • 帶寬:≥15-40GHz@-1dB
  • 適用 QFN/DFN & LGA等封裝
大電流測試探針
  • 間距:≥0.3mm
  • 電流:≥4-6A
  • 接觸穩定
  • 可實現Kelvin測試
  • 適用 QFN/DFN封裝
  • 配合測試插座浮動座設計可應用於QFP/SOP封裝
大電流測試探針
大電流測試探針
大電流測試探針
  • 間距:≥0.3mm
  • 電流:≥4-6A
  • 接觸穩定
  • 可實現Kelvin測試
  • 適用 QFN/DFN封裝
  • 配合測試插座浮動座設計可應用於QFP/SOP封裝
同軸測試探針
  • 同軸結構間距:≥0.35mm
  • Insert loss S21:45-80GHz@-1dB
  • Return loss S11:45-80GHz@-10dB
同軸測試探針
同軸測試探針
同軸測試探針
  • 同軸結構間距:≥0.35mm
  • Insert loss S21:45-80GHz@-1dB
  • Return loss S11:45-80GHz@-10dB
彈簧探針
  • 最小間距 0.11 mm
  • 最小長度 1.4 mm
彈簧探針
彈簧探針
彈簧探針
  • 最小間距 0.11 mm
  • 最小長度 1.4 mm
測試導電膠
  • 間距:≥350um
  • 短信號路徑,低接觸電阻:<100mΩ
  • 高針數量:≤9,000針
  • 卓越的接觸穩定性
  • 錫球無損傷
測試導電膠
測試導電膠
測試導電膠
  • 間距:≥350um
  • 短信號路徑,低接觸電阻:<100mΩ
  • 高針數量:≤9,000針
  • 卓越的接觸穩定性
  • 錫球無損傷
晶圓測試 MEMS 針

      2D MEMS 垂直針

  • 間距:≥50um
  • 電流承載能力:<1500mA
  • 高針數量:≤40,000針
  • 壽命:TD 500K ~1000K
  • Kelvin 測試可選
  • 針壓: ≥ 0.7 gf/mil
  • 最大行程: 6 mils
  • 測試溫度範圍: -55℃ ~ 175℃
晶圓測試 MEMS 針
晶圓測試 MEMS 針
晶圓測試 MEMS 針

      2D MEMS 垂直針

  • 間距:≥50um
  • 電流承載能力:<1500mA
  • 高針數量:≤40,000針
  • 壽命:TD 500K ~1000K
  • Kelvin 測試可選
  • 針壓: ≥ 0.7 gf/mil
  • 最大行程: 6 mils
  • 測試溫度範圍: -55℃ ~ 175℃
晶圓測試彈簧探針

     晶圓級芯片封裝探針

  • 間距:≥130um
  • 電流:≥0.5-3A
  • 接觸穩定性
  • 可實現 Kelvin測試
晶圓測試彈簧探針
晶圓測試彈簧探針
晶圓測試彈簧探針

     晶圓級芯片封裝探針

  • 間距:≥130um
  • 電流:≥0.5-3A
  • 接觸穩定性
  • 可實現 Kelvin測試
FAQ

常見問題

允利彙整了關於測試探針的應用範圍、技術規格與使用方式,幫助您更快速了解產品性能與彈性測試優勢。若有其他需求,歡迎聯繫我們取得進一步技術支援。
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